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Evaluation of AlGaN/GaN heterostructures properties by QMSA and AFM techniques

Adam Szyszka

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Szyszka, Adam
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Mateusz Wośko

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Bogdan Paszkiewicz

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Marek Tłaczała

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Tłaczała, Marek
  
15. Dez. 2013
Evaluation of AlGaN/GaN heterostructures properties by QMSA and AFM techniques's Cover Image
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Online veröffentlicht: 15. Dez. 2013
Seitenbereich: 543 - 547
DOI: https://doi.org/10.2478/s13536-013-0135-3
Schlüsselwörter
© 2013 Wroclaw University of Technology
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 3.0 License.
Szyszka, Adam
Wośko, Mateusz
Paszkiewicz, Bogdan
Tłaczała, Marek
Sprache:
Englisch
Zeitrahmen der Veröffentlichung:
4 Hefte pro Jahr
Fachgebiete der Zeitschrift:
Materialwissenschaft, Materialwissenschaft, andere, Nanomaterialien, Funktionelle und Intelligente Materialien, Charakterisierung und Eigenschaften von Materialien
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