Iniciar sesión
Registrarse
Restablecer contraseña
Publicar y Distribuir
Soluciones de Publicación
Soluciones de Distribución
Temas
Arquitectura y diseño
Artes
Ciencias Sociales
Ciencias de la Información y Bibliotecas, Estudios del Libro
Ciencias de la vida
Ciencias de los materiales
Deporte y tiempo libre
Estudios clásicos y del Cercano Oriente antiguo
Estudios culturales
Estudios judíos
Farmacia
Filosofía
Física
Geociencias
Historia
Informática
Ingeniería
Interés general
Ley
Lingüística y semiótica
Literatura
Matemáticas
Medicina
Música
Negocios y Economía
Química
Química industrial
Teología y religión
Publicaciones
Revistas
Libros
Actas
Editoriales
Blog
Contacto
Buscar
EUR
USD
GBP
Español
English
Deutsch
Polski
Español
Français
Italiano
Carrito
Home
Revistas
Materials Science-Poland
Volumen 38 (2020): Edición 1 (March 2020)
Acceso abierto
Optical characterization of thin Al
2
O
3
layers deposited by magnetron sputtering technique at industrial conditions for applications in glazing
Piotr Dywel
Piotr Dywel
y
Łukasz Skowroński
Łukasz Skowroński
| 08 may 2020
Materials Science-Poland
Volumen 38 (2020): Edición 1 (March 2020)
Acerca de este artículo
Artículo anterior
Artículo siguiente
Resumen
Referencias
Autores
Artículos en este número
Vista previa
PDF
Cite
Compartir
Publicado en línea:
08 may 2020
Páginas:
108 - 115
Recibido:
18 ago 2018
Aceptado:
19 feb 2019
DOI:
https://doi.org/10.2478/msp-2019-0093
Palabras clave
AlO
,
GIMS
,
refractive index
,
light transmittance
,
glazing
© 2020 Piotr Dywel et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 License.