Iniciar sesión
Registrarse
Restablecer contraseña
Publicar y Distribuir
Soluciones de Publicación
Soluciones de Distribución
Temas
Arquitectura y diseño
Artes
Ciencias Sociales
Ciencias de la Información y Bibliotecas, Estudios del Libro
Ciencias de la vida
Ciencias de los materiales
Deporte y tiempo libre
Estudios clásicos y del Cercano Oriente antiguo
Estudios culturales
Estudios judíos
Farmacia
Filosofía
Física
Geociencias
Historia
Informática
Ingeniería
Interés general
Ley
Lingüística y semiótica
Literatura
Matemáticas
Medicina
Música
Negocios y Economía
Química
Química industrial
Teología y religión
Publicaciones
Revistas
Libros
Actas
Editoriales
Blog
Contacto
Buscar
EUR
USD
GBP
Español
English
Deutsch
Polski
Español
Français
Italiano
Carrito
Home
Revistas
Journal of Electrical Engineering
Volumen 75 (2024): Edición 1 (February 2024)
Acceso abierto
Cleaning of tungsten tips for subsequent use as cold field emitters or STM probes
Zuzana Košelová
Zuzana Košelová
,
Lenka Horáková
Lenka Horáková
,
Daniel Burda
Daniel Burda
,
Mohammad M. Allaham
Mohammad M. Allaham
,
Alexandr Knápek
Alexandr Knápek
y
Zdenka Fohlerová
Zdenka Fohlerová
| 10 feb 2024
Journal of Electrical Engineering
Volumen 75 (2024): Edición 1 (February 2024)
Acerca de este artículo
Artículo anterior
Artículo siguiente
Resumen
Referencias
Autores
Artículos en este número
Vista previa
PDF
Cite
Compartir
Publicado en línea:
10 feb 2024
Páginas:
41 - 46
Recibido:
05 dic 2023
DOI:
https://doi.org/10.2478/jee-2024-0006
Palabras clave
STM probes
,
field emission
,
cleaning procedure
,
tungsten tip
,
FEM
© 2024 Zuzana Košelová et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International License.