Login
Registrieren
Passwort zurücksetzen
Veröffentlichen & Verteilen
Verlagslösungen
Vertriebslösungen
Themen
Allgemein
Altertumswissenschaften
Architektur und Design
Bibliotheks- und Informationswissenschaft, Buchwissenschaft
Biologie
Chemie
Geowissenschaften
Geschichte
Industrielle Chemie
Informatik
Jüdische Studien
Kulturwissenschaften
Kunst
Linguistik und Semiotik
Literaturwissenschaft
Materialwissenschaft
Mathematik
Medizin
Musik
Pharmazie
Philosophie
Physik
Rechtswissenschaften
Sozialwissenschaften
Sport und Freizeit
Technik
Theologie und Religion
Wirtschaftswissenschaften
Veröffentlichungen
Zeitschriften
Bücher
Konferenzberichte
Verlage
Blog
Kontakt
Suche
EUR
USD
GBP
Deutsch
English
Deutsch
Polski
Español
Français
Italiano
Warenkorb
Home
Zeitschriften
Journal of Electrical Engineering
Band 75 (2024): Heft 1 (February 2024)
Uneingeschränkter Zugang
Cleaning of tungsten tips for subsequent use as cold field emitters or STM probes
Zuzana Košelová
Zuzana Košelová
,
Lenka Horáková
Lenka Horáková
,
Daniel Burda
Daniel Burda
,
Mohammad M. Allaham
Mohammad M. Allaham
,
Alexandr Knápek
Alexandr Knápek
und
Zdenka Fohlerová
Zdenka Fohlerová
| 10. Feb. 2024
Journal of Electrical Engineering
Band 75 (2024): Heft 1 (February 2024)
Über diesen Artikel
Vorheriger Artikel
Nächster Artikel
Zusammenfassung
Referenzen
Autoren
Artikel in dieser Ausgabe
Vorschau
PDF
Zitieren
Teilen
Online veröffentlicht:
10. Feb. 2024
Seitenbereich:
41 - 46
Eingereicht:
05. Dez. 2023
DOI:
https://doi.org/10.2478/jee-2024-0006
Schlüsselwörter
STM probes
,
field emission
,
cleaning procedure
,
tungsten tip
,
FEM
© 2024 Zuzana Košelová et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International License.