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International Journal of Applied Mathematics and Computer Science
Band 20 (2010): Heft 1 (March 2010)
Uneingeschränkter Zugang
Analysis of multibackground memory testing techniques
Ireneusz Mrozek
Ireneusz Mrozek
| 25. März 2010
International Journal of Applied Mathematics and Computer Science
Band 20 (2010): Heft 1 (March 2010)
Computational Intelligence in Modern Control Systems (special section, pp. 7 - 84), Józef Korbicz and Dariusz Uciński (Eds.)
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Online veröffentlicht:
25. März 2010
Seitenbereich:
191 - 205
DOI:
https://doi.org/10.2478/v10006-010-0014-6
Schlüsselwörter
RAM testing
,
pattern sensitive faults
,
March tests
,
multibackground testing
This content is open access.