Uneingeschränkter Zugang

Deep Learning Measurement Model to Segment the Nuchal Translucency Region for the Early Identification of Down Syndrome


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Mary Christeena Thomas
Department of Electronics and Instrumentation, SRM Institute of Science and Technology Kattankulathur India
Sridhar P. Arjunan
Department of Electronics and Instrumentation, SRM Institute of Science and Technology Kattankulathur India
eISSN:
1335-8871
Sprache:
Englisch
Zeitrahmen der Veröffentlichung:
6 Hefte pro Jahr
Fachgebiete der Zeitschrift:
Technik, Elektrotechnik, Mess-, Steuer- und Regelungstechnik