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An Improved Method for Determination of Refractive Index of Dielectric Films from Reflectance Spectrum by Using the Generalized Morse Wavelet

Erhan Tiryaki

Erhan Tiryaki

Department of Physics, School of Graduate Studies, Canakkale Onsekiz Mart UniversityCanakkale, Turkey
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Tiryaki, Erhan
, 
Özlem Kocahan

Özlem Kocahan

Department of Physics, Faculty of Arts and Sciences, Namik Kemal UniversityTekirdag, Turkey
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Kocahan, Özlem
 und 
Serhat Özder

Serhat Özder

Department of Physics, Faculty of Arts and Sciences, Canakkale Onsekiz Mart UniversityCanakkale, Turkey
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Özder, Serhat
  
21. Mai 2021
An Improved Method for Determination of Refractive Index of Dielectric Films from Reflectance Spectrum by Using the Generalized Morse Wavelet's Cover Image
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Online veröffentlicht: 21. Mai 2021
Seitenbereich: 61 - 66
Eingereicht: 23. März 2021
Akzeptiert: 03. Mai 2021
DOI: https://doi.org/10.2478/msr-2021-0009
Schlüsselwörter
© 2021 Erhan Tiryaki et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 3.0 License.
Tiryaki, Erhan
Department of Physics, School of Graduate Studies, Canakkale Onsekiz Mart UniversityCanakkale, Turkey
Kocahan, Özlem
Department of Physics, Faculty of Arts and Sciences, Namik Kemal UniversityTekirdag, Turkey
Özder, Serhat
Department of Physics, Faculty of Arts and Sciences, Canakkale Onsekiz Mart UniversityCanakkale, Turkey
Sprache:
Englisch
Zeitrahmen der Veröffentlichung:
6 Hefte pro Jahr
Fachgebiete der Zeitschrift:
Technik, Elektrotechnik, Mess-, Steuer- und Regelungstechnik
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