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Deep Learning Based Defect Detection Research on Printed Circuit Boards

Qihang Yang

Qihang Yang

School of Computer Science and Engineering, Xi'an Technological UniversityXi'an, China
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Yang, Qihang
 und 
Fan Yu

Fan Yu

School of Computer Science and Engineering, Xi'an Technological UniversityXi'an, China
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Yu, Fan
  
21. Juli 2024
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Online veröffentlicht: 21. Juli 2024
Seitenbereich: 51 - 58
DOI: https://doi.org/10.2478/ijanmc-2024-0015
Schlüsselwörter
© 2024 Qihang Yang et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International License.
Yang, Qihang
School of Computer Science and Engineering, Xi'an Technological UniversityXi'an, China
Yu, Fan
School of Computer Science and Engineering, Xi'an Technological UniversityXi'an, China
Sprache:
Englisch
Zeitrahmen der Veröffentlichung:
4 Hefte pro Jahr
Fachgebiete der Zeitschrift:
Informatik, Informatik, andere
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