Skip to content
Veröffentlichen & Verteilen
Verlagslösungen
Vertriebslösungen
Bibliotheksdienste
Themen
Allgemein
Altertumswissenschaften
Architektur und Design
Bibliotheks- und Informationswissenschaft, Buchwissenschaft
Biologie
Chemie
Geowissenschaften
Geschichte
Industrielle Chemie
Informatik
Jüdische Studien
Kulturwissenschaften
Kunst
Linguistik und Semiotik
Literaturwissenschaft
Materialwissenschaft
Mathematik
Medizin
Musik
Pharmazie
Philosophie
Physik
Rechtswissenschaften
Sozialwissenschaften
Sport und Freizeit
Technik
Theologie und Religion
Wirtschaftswissenschaften
Veröffentlichungen
Zeitschriften
Bücher
Konferenzberichte
Verlage
Journal Matcher
Blog
Kontakt
Suche
Deutsch
English
Deutsch
Polski
Español
Français
Italiano
Warenkorb
Home
Zeitschriften
International Journal of Advanced Network, Monitoring and Controls
Band 9 (2024): Heft 2 (Juni 2024)
Uneingeschränkter Zugang
Deep Learning Based Defect Detection Research on Printed Circuit Boards
Qihang Yang
Qihang Yang
School of Computer Science and Engineering, Xi'an Technological University
Xi'an, China
Suche nach diesem Autor auf
Sciendo
|
Google Scholar
Yang, Qihang
und
Fan Yu
Fan Yu
School of Computer Science and Engineering, Xi'an Technological University
Xi'an, China
Suche nach diesem Autor auf
Sciendo
|
Google Scholar
Yu, Fan
21. Juli 2024
International Journal of Advanced Network, Monitoring and Controls
Band 9 (2024): Heft 2 (Juni 2024)
Über diesen Artikel
Vorheriger Artikel
Nächster Artikel
Zusammenfassung
Artikel
Figuren und Tabellen
Referenzen
Autoren
Artikel in dieser Ausgabe
Vorschau
PDF
Zitieren
Teilen
COVER HERUNTERLADEN
Online veröffentlicht:
21. Juli 2024
Seitenbereich:
51 - 58
DOI:
https://doi.org/10.2478/ijanmc-2024-0015
Schlüsselwörter
Deep Learning
,
Defect Detection
,
YOLOv8
© 2024 Qihang Yang et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International License.
