Uneingeschränkter Zugang

Research On Chips’ Defect Extraction Based On Image-Matching


Zitieren

Daode Zhang
School of Mechanical Engineering, Hubei University of TechnologyWuhan, China
Yangliu Xue
School of Mechanical Engineering, Hubei University of TechnologyWuhan, China
Xuhui Ye
School of Mechanical Engineering, Hubei University of TechnologyWuhan, China
Yanli Li
School of Mechanical Engineering, Hubei University of TechnologyWuhan, China
eISSN:
1178-5608
Sprache:
Englisch
Zeitrahmen der Veröffentlichung:
Volume Open
Fachgebiete der Zeitschrift:
Technik, Einführungen und Gesamtdarstellungen, andere