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Modified Langmuir-Blodgett deposition of nanoparticles - measurement of 2D to 3D ordered arrays

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21 dic 2010
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Lingua:
Inglese
Frequenza di pubblicazione:
6 volte all'anno
Argomenti della rivista:
Ingegneria, Elettrotecnica, Ingegneria dell'automazione, metrologia e collaudo