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Materials Science-Poland
Volume 32 (2014): Numero 3 (September 2014)
Accesso libero
Studies of CdI2-Bi3 microstructures with optical methods, atomic force microscopy and positron annihilation spectroscopy
Ivan Karbovnyk
Ivan Karbovnyk
,
Ivan Bolesta
Ivan Bolesta
,
Ivan Rovetskii
Ivan Rovetskii
,
Sergiy Velgosh
Sergiy Velgosh
e
Halyna Klym
Halyna Klym
| 17 ott 2014
Materials Science-Poland
Volume 32 (2014): Numero 3 (September 2014)
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Pubblicato online:
17 ott 2014
Pagine:
391 - 395
DOI:
https://doi.org/10.2478/s13536-014-0215-z
Parole chiave
layered crystals
,
microstructures
,
atomic force microscopy
,
positron annihilation
© 2014 Wroclaw University of Technology
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 3.0 License.
Ivan Karbovnyk
Ivan Franko National University of Lviv, Lviv, Ukraine
Ivan Bolesta
Ivan Franko National University of Lviv, Lviv, Ukraine
Ivan Rovetskii
Ivan Franko National University of Lviv, Lviv, Ukraine
Sergiy Velgosh
Ivan Franko National University of Lviv, Lviv, Ukraine
Halyna Klym
Lviv Polytechnic National University, Lviv, Ukraine