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Noise Propagation in Multiple-Input ADC-Based Measurement Systems

   | 15 dic 2014
INFORMAZIONI SU QUESTO ARTICOLO

Cita

Diego Bellan
Department of Electronics, Information and Bioengineering, Politecnico di Milano, piazza Leonardo da Vinci, 32, 20133, Milan, Italy
eISSN:
1335-8871
Lingua:
Inglese
Frequenza di pubblicazione:
6 volte all'anno
Argomenti della rivista:
Engineering, Electrical Engineering, Control Engineering, Metrology and Testing