Skip to content
Pubblica & Distribuisci
Soluzioni Editoriali
Soluzioni di Distribuzione
Servizi bibliotecari
Temi
Architettura e design
Arti
Business e Economia
Chimica
Chimica industriale
Farmacia
Filosofia
Fisica
Geoscienze
Ingegneria
Interesse generale
Legge
Letteratura
Linguistica e semiotica
Matematica
Medicina
Musica
Scienze bibliotecarie e dell'informazione, studi library
Scienze dei materiali
Scienze della vita
Scienze informatiche
Scienze sociali
Sport e tempo libero
Storia
Studi classici e del Vicino Oriente antico
Studi culturali
Studi ebraici
Teologia e religione
Pubblicazioni
Riviste
Libri
Atti
Editori
Journal Matcher
Blog
Contatti
Cerca
Italiano
English
Deutsch
Polski
Español
Français
Italiano
Carrello
Home
Riviste
Materials Science-Poland
Volume 37 (2019): Numero 2 (Giugno 2019)
Accesso libero
Characterization of the native oxide on CdTe surfaces
Dinara Sobola
Dinara Sobola
Brno University of Technology, Faculty of Electrical Engineering and Communication, Physics Department
Brno,
Central European Institute of Technology BUT
Brno,
Cerca questo autore su
Sciendo
|
Google Scholar
Sobola, Dinara
,
Pavel Kaspar
Pavel Kaspar
Brno University of Technology, Faculty of Electrical Engineering and Communication, Physics Department
Brno,
Cerca questo autore su
Sciendo
|
Google Scholar
Kaspar, Pavel
,
Alois Nebojsa
Alois Nebojsa
Central European Institute of Technology BUT
Brno,
Cerca questo autore su
Sciendo
|
Google Scholar
Nebojsa, Alois
,
Dušan Hemzal
Dušan Hemzal
Department of Condensed Matter Physics, Faculty of Science, Masaryk University
Brno,
Cerca questo autore su
Sciendo
|
Google Scholar
Hemzal, Dušan
,
Lubomír Grmela
Lubomír Grmela
Brno University of Technology, Faculty of Electrical Engineering and Communication, Physics Department
Brno,
Central European Institute of Technology BUT
Brno,
Cerca questo autore su
Sciendo
|
Google Scholar
Grmela, Lubomír
e
Steve Smith
Steve Smith
South Dakota School of Mines, EP220, Electrical Engineering and Physics
Rapid City,
Cerca questo autore su
Sciendo
|
Google Scholar
Smith, Steve
02 ago 2019
Materials Science-Poland
Volume 37 (2019): Numero 2 (Giugno 2019)
INFORMAZIONI SU QUESTO ARTICOLO
Articolo precedente
Articolo Successivo
Sommario
Bibliografia
Autori
Articoli in questo Numero
Anteprima
PDF
Cita
CONDIVIDI
Scarica la copertina
Pubblicato online:
02 ago 2019
Pagine:
206 - 211
Ricevuto:
22 mar 2018
Accettato:
18 mar 2019
DOI:
https://doi.org/10.2478/msp-2019-0030
Parole chiave
selective etching
,
scanning probe microscopy
,
ellipsometry
,
Raman spectroscopy
© 2019 Dinara Sobola et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 License.