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Journal of Electrical Engineering
Volume 70 (2019): Numero 7 (December 2019)
Accesso libero
Black silicon – correlation between microstructure and Raman scattering
Stanislav Jurečka
Stanislav Jurečka
,
Emil Pinčík
Emil Pinčík
,
Kentaro Imamura
Kentaro Imamura
,
Taketoshi Matsumoto
Taketoshi Matsumoto
e
Hikaru Kobayashi
Hikaru Kobayashi
| 28 set 2019
Journal of Electrical Engineering
Volume 70 (2019): Numero 7 (December 2019)
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Pubblicato online:
28 set 2019
Pagine:
58 - 64
Ricevuto:
19 mar 2019
DOI:
https://doi.org/10.2478/jee-2019-0042
Parole chiave
black silicon
,
TEM
,
roughness
,
fractal properties
,
Raman scattering
© 2019 Stanislav Jurečka et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 License.