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The threshold contrast thickness evaluated with different CDMAM phantoms and software

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17 mar 2016
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Fabiszewska, Ewa
Grabska, Iwona
Pasicz, Katarzyna
Lingua:
Inglese
Frequenza di pubblicazione:
4 volte all'anno
Argomenti della rivista:
Chimica, Chimica nucleare, Fisica, Astronomia ed astrofisica, Fisica, altro