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Materials Science-Poland
Volume 34 (2016): Numero 4 (December 2016)
Accesso libero
A new method for quantifying the nanoscale magnetic domains
Zhenghua Li
Zhenghua Li
,
Yi Hong
Yi Hong
,
Jing Zhang
Jing Zhang
e
Xiang Li
Xiang Li
| 23 dic 2016
Materials Science-Poland
Volume 34 (2016): Numero 4 (December 2016)
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Pubblicato online:
23 dic 2016
Pagine:
924 - 927
Ricevuto:
22 giu 2016
Accettato:
30 ott 2016
DOI:
https://doi.org/10.1515/msp-2016-0124
Parole chiave
magnetic materials
,
magnetic force microscopy
,
simulation and modeling
© Wroclaw University of Technology
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 3.0 License.
(a) the AFM image, (b) the MFM phase image, and (c) the quantified magnetic field distribution of the triangular shaped FePt pad with in-plane magnetization.
(a) The MFM phase image, (b) the quantified perpendicular and in-plane magnetic field components, (c) the simulated MFM image for the perpendicular magnetic recording media.
(a) The MFM image, (b) the magnetic charge distribution, (c) the magnetization distribution and (d) the reconstructed MFM image for the LSMO films.