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International Journal of Applied Mathematics and Computer Science
Édition 18 (2008): Edition 3 (Septembre 2008)
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Address Sequences and Backgrounds with Different Hamming Distances for Multiple Run March Tests
Svetlana Yarmolik
Svetlana Yarmolik
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Yarmolik, Svetlana
06 oct. 2008
International Journal of Applied Mathematics and Computer Science
Édition 18 (2008): Edition 3 (Septembre 2008)
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Publié en ligne:
06 oct. 2008
Pages:
329 - 339
DOI:
https://doi.org/10.2478/v10006-008-0030-y
Mots clés
random-access memory (RAM)
,
memory testing
,
March memory test
,
neighbourhood pattern sensitive faults
,
memory address
,
memory background
,
Gray code
,
Hamming distance
This content is open access.
