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International Journal of Applied Mathematics and Computer Science
Édition 18 (2008): Edition 1 (March 2008)
Accès libre
A Generalised Approach to the use of Sampling for Rapid Object Location
E. Davies
E. Davies
| 21 mars 2008
International Journal of Applied Mathematics and Computer Science
Édition 18 (2008): Edition 1 (March 2008)
Applied Image Processing (special issue), Anton Kummert and Ewaryst Rafajłowicz (Eds.)
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Publié en ligne:
21 mars 2008
Pages:
7 - 19
DOI:
https://doi.org/10.2478/v10006-008-0001-3
Mots clés
Machine vision
,
automated inspection and assembly
,
rapid object location
,
sampling techniques
This content is open access.
E. Davies
Machine Vision Group, Department of Physics Royal Holloway, University of London, Egham Surrey, TW20 0EX, UK