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Journal of Electrical Engineering
Édition 75 (2024): Edition 1 (February 2024)
Accès libre
Cleaning of tungsten tips for subsequent use as cold field emitters or STM probes
Zuzana Košelová
Zuzana Košelová
,
Lenka Horáková
Lenka Horáková
,
Daniel Burda
Daniel Burda
,
Mohammad M. Allaham
Mohammad M. Allaham
,
Alexandr Knápek
Alexandr Knápek
et
Zdenka Fohlerová
Zdenka Fohlerová
| 10 févr. 2024
Journal of Electrical Engineering
Édition 75 (2024): Edition 1 (February 2024)
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Publié en ligne:
10 févr. 2024
Pages:
41 - 46
Reçu:
05 déc. 2023
DOI:
https://doi.org/10.2478/jee-2024-0006
Mots clés
STM probes
,
field emission
,
cleaning procedure
,
tungsten tip
,
FEM
© 2024 Zuzana Košelová et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International License.
Zuzana Košelová
Institute of Scientific Instruments of the Czech Academy of Sciences
Brno, Czech Republic
Department of Microelectronics, Brno University of Technology
Brno, Czech Republic
Lenka Horáková
Institute of Materials Science Brno University of Technology
Brno, Czech Republic
Daniel Burda
Institute of Scientific Instruments of the Czech Academy of Sciences
Brno, Czech Republic
Department of Physics, Brno University of Technology
Brno, Czech Republic
Mohammad M. Allaham
Institute of Scientific Instruments of the Czech Academy of Sciences
Brno, Czech Republic
Department of Physics, Brno University of Technology
Brno, Czech Republic
Alexandr Knápek
Institute of Scientific Instruments of the Czech Academy of Sciences
Brno, Czech Republic
Zdenka Fohlerová
Department of Microelectronics, Brno University of Technology
Brno, Czech Republic