Connexion
S'inscrire
Réinitialiser le mot de passe
Publier & Distribuer
Solutions d'édition
Solutions de distribution
Thèmes
Architecture et design
Arts
Business et économie
Chimie
Chimie industrielle
Droit
Géosciences
Histoire
Informatique
Ingénierie
Intérêt général
Linguistique et sémiotique
Littérature
Mathématiques
Musique
Médecine
Pharmacie
Philosophie
Physique
Sciences bibliothécaires et de l'information, études du livre
Sciences des matériaux
Sciences du vivant
Sciences sociales
Sport et loisirs
Théologie et religion
Études classiques et du Proche-Orient ancient
Études culturelles
Études juives
Publications
Journaux
Livres
Comptes-rendus
Éditeurs
Blog
Contact
Chercher
EUR
USD
GBP
Français
English
Deutsch
Polski
Español
Français
Italiano
Panier
Home
Journaux
International Journal of Advanced Network, Monitoring and Controls
Édition 9 (2024): Edition 2 (June 2024)
Accès libre
Deep Learning Based Defect Detection Research on Printed Circuit Boards
Qihang Yang
Qihang Yang
et
Fan Yu
Fan Yu
| 21 juil. 2024
International Journal of Advanced Network, Monitoring and Controls
Édition 9 (2024): Edition 2 (June 2024)
À propos de cet article
Article précédent
Article suivant
Résumé
Article
Figures et tableaux
Références
Auteurs
Articles dans cette édition
Aperçu
PDF
Citez
Partagez
Publié en ligne:
21 juil. 2024
Pages:
51 - 58
DOI:
https://doi.org/10.2478/ijanmc-2024-0015
Mots clés
Deep Learning
,
Defect Detection
,
YOLOv8
© 2024 Qihang Yang et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International License.
Qihang Yang
School of Computer Science and Engineering, Xi'an Technological University
Xi'an, China
Fan Yu
School of Computer Science and Engineering, Xi'an Technological University
Xi'an, China