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Biometrical Letters
Édition 60 (2023): Edition 1 (June 2023)
Accès libre
Computing analytic Bayes factors from summary statistics in repeated-measures designs
Thomas J. Faulkenberry
Thomas J. Faulkenberry
et
Keelyn B. Brennan
Keelyn B. Brennan
| 28 juin 2023
Biometrical Letters
Édition 60 (2023): Edition 1 (June 2023)
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Publié en ligne:
28 juin 2023
Pages:
1 - 21
DOI:
https://doi.org/10.2478/bile-2023-0001
Mots clés
Bayes factor
,
Pearson Type VI distribution
,
summary statistics
,
repeated measures
© 2023 Thomas J. Faulkenberry et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International License.