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International Journal on Smart Sensing and Intelligent Systems
Édition 8 (2015): Edition 2 (January 2015)
Accès libre
Investigation on Photoelectric Theodolite data Processing and Random Errors Model
Xiang Hua
Xiang Hua
,
Jinjin Zhang
Jinjin Zhang
et
Bin Lei
Bin Lei
| 20 nov. 2017
International Journal on Smart Sensing and Intelligent Systems
Édition 8 (2015): Edition 2 (January 2015)
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Publié en ligne:
20 nov. 2017
Pages:
1180 - 1202
Reçu:
26 janv. 2015
Accepté:
18 avr. 2015
DOI:
https://doi.org/10.21307/ijssis-2017-802
© 2015 Xiang Hua et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International License.
Xiang Hua
School of Electronic Information Engineering Xi’an Technological University
Xi’an, China
Jinjin Zhang
School of Electronic Information Engineering Xi’an Technological University
Xi’an, China
Bin Lei
School of Electronic Information Engineering Xi’an Technological University
Xi’an, China