Accès libre

Editorial – Special Issue on Total Survey Error (TSE)

À propos de cet article

Citez

Stephanie Eckman
RTI International Washington, United States of America
Edith de Leeuw
Department of Methodology & Statistics, Utrecht UniversityUtrecht, Netherlands
eISSN:
2001-7367
Langue:
Anglais
Périodicité:
4 fois par an
Sujets de la revue:
Mathematics, Probability and Statistics