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Journal of Electrical Engineering
Volumen 62 (2011): Edición 6 (November 2011)
Acceso abierto
Some Aspects of Quantitative Analysis of Ternary Alloys of Group III-Nitrides by Auger Electron Spectroscopy
Jozef Liday
Jozef Liday
,
Peter Vogrinčič
Peter Vogrinčič
y
Gernod Ecke
Gernod Ecke
| 21 dic 2011
Journal of Electrical Engineering
Volumen 62 (2011): Edición 6 (November 2011)
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Publicado en línea:
21 dic 2011
Páginas:
367 - 369
DOI:
https://doi.org/10.2478/v10187-011-0059-2
Palabras clave
GaN
,
AlN
,
AlGaN
,
AES relative elemental sensitivity factors
,
component sputtering yields
This content is open access.