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Journal of Electrical Engineering
Volumen 62 (2011): Edición 2 (March 2011)
Acceso abierto
Measuring Static Parameters of Embedded ADC Core
Franc Novak
Franc Novak
,
Peter Mrak
Peter Mrak
y
Anton Biasizzo
Anton Biasizzo
| 07 jun 2011
Journal of Electrical Engineering
Volumen 62 (2011): Edición 2 (March 2011)
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Publicado en línea:
07 jun 2011
Páginas:
80 - 86
DOI:
https://doi.org/10.2478/v10187-011-0013-3
Palabras clave
ADC static parameters
,
histogram based test
,
built-in self-test
,
system-on-chip
This content is open access.