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Materials Science-Poland
Volumen 32 (2014): Edición 2 (June 2014)
Acceso abierto
Method of determination of palladium concentration for C-Pd nanostructural films as a function of film thickness, roughness and topography
Joanna Rymarczyk
Joanna Rymarczyk
y
Mirosław Kozłowski
Mirosław Kozłowski
| 22 jul 2014
Materials Science-Poland
Volumen 32 (2014): Edición 2 (June 2014)
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Publicado en línea:
22 jul 2014
Páginas:
228 - 235
DOI:
https://doi.org/10.2478/s13536-013-0194-5
Palabras clave
palladium
,
carbon
,
SEM
,
EDX
© 2014 Wroclaw University of Technology
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 3.0 License.
Joanna Rymarczyk
Tele & Radio Research Institute, Ratuszowa 11, 03-450, Warsaw, Russia
Mirosław Kozłowski
Tele & Radio Research Institute, Ratuszowa 11, 03-450, Warsaw, Russia