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Materials Science-Poland
Volumen 35 (2017): Edición 3 (October 2017)
Acceso abierto
Multifractal characterization of epitaxial silicon carbide on silicon
Ştefan Ţălu
Ştefan Ţălu
,
Sebastian Stach
Sebastian Stach
,
Shikhgasan Ramazanov
Shikhgasan Ramazanov
,
Dinara Sobola
Dinara Sobola
y
Guseyn Ramazanov
Guseyn Ramazanov
| 31 oct 2017
Materials Science-Poland
Volumen 35 (2017): Edición 3 (October 2017)
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Publicado en línea:
31 oct 2017
Páginas:
539 - 547
Recibido:
13 oct 2016
Aceptado:
28 mar 2017
DOI:
https://doi.org/10.1515/msp-2017-0049
Palabras clave
surface roughness
,
multifractal analysis
,
atomic force microscopy
,
silicon carbide
,
film growth
© 2017
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 License.