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Optical spectroscopic analysis of annealed Cd_1−xZn_xSe thin films deposited by close space sublimation technique

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Mahmood, Arshad

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19 dic 2016

Optical spectroscopic analysis of annealed Cd1−xZnxSe thin films deposited by close space sublimation technique's Cover Image

Materials Science-Poland

Volumen 34 (2016): Edición 4 (Diciembre 2016)

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Publicado en línea: 19 dic 2016

Páginas: 828 - 833

Recibido: 16 abr 2016

Aceptado: 17 oct 2016

DOI: https://doi.org/10.1515/msp-2016-0118

Palabras clave
thin films, optical constants, ellipsometry, CdZnSe, optical band gap

© Wroclaw University of Technology

This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 3.0 License.

Idioma:: Inglés

Calendario de la edición:: 4 veces al año
Temas de la revista:: Ciencia de los materiales, Ciencia de los materiales, otros, Nanomateriales, Materiales funcionales e inteligentes, Características y propiedades de los materiales

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