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Materials Science-Poland
Volumen 34 (2016): Edición 4 (December 2016)
Acceso abierto
Optical spectroscopic analysis of annealed Cd
1−x
Zn
x
Se thin films deposited by close space sublimation technique
Ijaz Ali
Ijaz Ali
,
Amjid Iqbal
Amjid Iqbal
,
Arshad Mahmood
Arshad Mahmood
,
A. Shah
A. Shah
,
M. Zakria
M. Zakria
y
Asad Ali
Asad Ali
| 19 dic 2016
Materials Science-Poland
Volumen 34 (2016): Edición 4 (December 2016)
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Publicado en línea:
19 dic 2016
Páginas:
828 - 833
Recibido:
16 abr 2016
Aceptado:
17 oct 2016
DOI:
https://doi.org/10.1515/msp-2016-0118
Palabras clave
thin films
,
optical constants
,
ellipsometry
,
CdZnSe
,
optical band gap
© Wroclaw University of Technology
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 3.0 License.