Iniciar sesión
Registrarse
Restablecer contraseña
Publicar y Distribuir
Soluciones de Publicación
Soluciones de Distribución
Temas
Arquitectura y diseño
Artes
Ciencias Sociales
Ciencias de la Información y Bibliotecas, Estudios del Libro
Ciencias de la vida
Ciencias de los materiales
Deporte y tiempo libre
Estudios clásicos y del Cercano Oriente antiguo
Estudios culturales
Estudios judíos
Farmacia
Filosofía
Física
Geociencias
Historia
Informática
Ingeniería
Interés general
Ley
Lingüística y semiótica
Literatura
Matemáticas
Medicina
Música
Negocios y Economía
Química
Química industrial
Teología y religión
Publicaciones
Revistas
Libros
Actas
Editoriales
Blog
Contacto
Buscar
EUR
USD
GBP
Español
English
Deutsch
Polski
Español
Français
Italiano
Carrito
Home
Revistas
Journal of Electrical Engineering
Volumen 68 (2017): Edición 7 (December 2017)
Acceso abierto
Investigation of deep defects in nanocrystalline-Si/Si interfaces using acoustic spectroscopy
Peter Bury
Peter Bury
,
Štefan Hardoň
Štefan Hardoň
,
Hikaru Kobayashi
Hikaru Kobayashi
y
Kento Imamura
Kento Imamura
| 29 dic 2017
Journal of Electrical Engineering
Volumen 68 (2017): Edición 7 (December 2017)
Acerca de este artículo
Artículo anterior
Artículo siguiente
Resumen
Referencias
Autores
Artículos en este número
Vista previa
PDF
Cite
Compartir
Publicado en línea:
29 dic 2017
Páginas:
43 - 47
Recibido:
23 abr 2017
DOI:
https://doi.org/10.1515/jee-2017-0054
Palabras clave
nanocrystalline-Si/Si interfaces
,
acoustic DLTS
,
deep defects
© 2017 Peter Bury et al., published by De Gruyter Open
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 License.