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On The Effect Of Image Brightness And Contrast Nonuniformity On Statistical Texture Parameters


Cite

Andrzej Materka
Institute of Electronics, Lodz University of Technology, Wolczanska 211/215, 90-924 Lodz, Poland
Michał Strzelecki
Institute of Electronics, Lodz University of Technology, Wolczanska 211/215, 90-924 Lodz, Poland
eISSN:
2300-3405
Idioma:
Inglés
Calendario de la edición:
4 veces al año
Temas de la revista:
Computer Sciences, Artificial Intelligence, Software Development