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International Journal of Applied Mathematics and Computer Science
Volumen 26 (2016): Edición 3 (September 2016)
Acceso abierto
Automatic parametric fault detection in complex analog systems based on a method of minimum node selection
Adrian Bilski
Adrian Bilski
y
Jacek Wojciechowski
Jacek Wojciechowski
| 29 sept 2016
International Journal of Applied Mathematics and Computer Science
Volumen 26 (2016): Edición 3 (September 2016)
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Publicado en línea:
29 sept 2016
Páginas:
655 - 668
Recibido:
24 oct 2014
Aceptado:
09 mar 2016
DOI:
https://doi.org/10.1515/amcs-2016-0045
Palabras clave
complex analog systems
,
support vector machine
,
tabu search
,
genetic algorithm
,
parametric fault detection
© 2016 Adrian Bilski et al., published by De Gruyter Open
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 3.0 License.