Login
Registrieren
Passwort zurücksetzen
Veröffentlichen & Verteilen
Verlagslösungen
Vertriebslösungen
Themen
Allgemein
Altertumswissenschaften
Architektur und Design
Bibliotheks- und Informationswissenschaft, Buchwissenschaft
Biologie
Chemie
Geowissenschaften
Geschichte
Industrielle Chemie
Informatik
Jüdische Studien
Kulturwissenschaften
Kunst
Linguistik und Semiotik
Literaturwissenschaft
Materialwissenschaft
Mathematik
Medizin
Musik
Pharmazie
Philosophie
Physik
Rechtswissenschaften
Sozialwissenschaften
Sport und Freizeit
Technik
Theologie und Religion
Wirtschaftswissenschaften
Veröffentlichungen
Zeitschriften
Bücher
Konferenzberichte
Verlage
Blog
Kontakt
Suche
EUR
USD
GBP
Deutsch
English
Deutsch
Polski
Español
Français
Italiano
Warenkorb
Home
Zeitschriften
Journal of Applied Mathematics, Statistics and Informatics
Band 8 (2012): Heft 1 (May 2012)
Uneingeschränkter Zugang
Reliability Properties of Residual Life Time and Inactivity Time of Series and Parallel System
Nitin Gupta
Nitin Gupta
,
Neeraj Gandotra
Neeraj Gandotra
und
Rakesh Bajaj
Rakesh Bajaj
| 13. Aug. 2012
Journal of Applied Mathematics, Statistics and Informatics
Band 8 (2012): Heft 1 (May 2012)
Über diesen Artikel
Vorheriger Artikel
Nächster Artikel
Zusammenfassung
Referenzen
Autoren
Artikel in dieser Ausgabe
Vorschau
PDF
Zitieren
Teilen
Online veröffentlicht:
13. Aug. 2012
Seitenbereich:
5 - 16
DOI:
https://doi.org/10.2478/v10294-012-0001-7
Schlüsselwörter
Likelihood ratio order
,
series system
,
parallel system
This content is open access.
Nitin Gupta
Department of Mathematics, Jaypee University of Information Technology, Waknaghat, Solan (H.P.) Pin - 173 234 INDIA
Neeraj Gandotra
Department of Mathematics, Jaypee University of Information Technology, Waknaghat, Solan (H.P.) Pin - 173 234 INDIA
Rakesh Bajaj
Department of Mathematics, Jaypee University of Information Technology, Waknaghat, Solan (H.P.) Pin - 173 234 INDIA