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Journal of Electrical Engineering
Band 61 (2010): Heft 5 (September 2010)
Uneingeschränkter Zugang
Experience with Imaging by Using of Microfocus X-Ray Source
Zdenko Zápražný
Zdenko Zápražný
,
Dušan Korytár
Dušan Korytár
,
František Dubecký
František Dubecký
,
Vladimír Áč
Vladimír Áč
,
Zbigniew Stachura
Zbigniew Stachura
,
Janusz Lekki
Janusz Lekki
,
Jakub Bielicky
Jakub Bielicky
und
Ján Mudroň
Ján Mudroň
| 07. Juni 2011
Journal of Electrical Engineering
Band 61 (2010): Heft 5 (September 2010)
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Online veröffentlicht:
07. Juni 2011
Seitenbereich:
287 - 290
DOI:
https://doi.org/10.2478/v10187-010-0042-3
Schlüsselwörter
x-ray imaging
,
x-ray imaging system
,
parameters of the x-ray imaging system
This content is open access.
Zdenko Zápražný
Institute of Electrical Engineering, SAS, Vrbovská cesta 102, 921 01 Piešťany
Dušan Korytár
Institute of Electrical Engineering, SAS, Vrbovská cesta 102, 921 01 Piešťany
František Dubecký
Institute of Electrical Engineering, SAS, Vrbovská cesta 102, 921 01 Piešťany
Vladimír Áč
Alexander Dubček University of Trenčín, Študentská 1, 911 50 Trenčín, Slovakia
Zbigniew Stachura
Institute of Nuclear Physics, Polish Academy of Sciences, ul. Radzikowskiego, 31-342 Krakow, Poland
Janusz Lekki
Institute of Nuclear Physics, Polish Academy of Sciences, ul. Radzikowskiego, 31-342 Krakow, Poland
Jakub Bielicky
Institute of Nuclear Physics, Polish Academy of Sciences, ul. Radzikowskiego, 31-342 Krakow, Poland
Ján Mudroň
Magic Trading Corporation, a.s. 031 01 Liptovský Mikuláš, Slovakia