Skip to content
Veröffentlichen & Verteilen
Verlagslösungen
Vertriebslösungen
Bibliotheksdienste
Themen
Allgemein
Altertumswissenschaften
Architektur und Design
Bibliotheks- und Informationswissenschaft, Buchwissenschaft
Biologie
Chemie
Geowissenschaften
Geschichte
Industrielle Chemie
Informatik
Jüdische Studien
Kulturwissenschaften
Kunst
Linguistik und Semiotik
Literaturwissenschaft
Materialwissenschaft
Mathematik
Medizin
Musik
Pharmazie
Philosophie
Physik
Rechtswissenschaften
Sozialwissenschaften
Sport und Freizeit
Technik
Theologie und Religion
Wirtschaftswissenschaften
Veröffentlichungen
Zeitschriften
Bücher
Konferenzberichte
Verlage
Journal Matcher
Blog
Kontakt
Suche
Deutsch
English
Deutsch
Polski
Español
Français
Italiano
Warenkorb
Home
Zeitschriften
Measurement Science Review
Band 9 (2009): Heft 1 (Februar 2009)
Uneingeschränkter Zugang
Multi-Wavelength Interferometry for Length Measurements Using Diode Lasers
K. Meiners-Hagen
K. Meiners-Hagen
Suche nach diesem Autor auf
Sciendo
|
Google Scholar
Meiners-Hagen, K.
,
R. Schödel
R. Schödel
Suche nach diesem Autor auf
Sciendo
|
Google Scholar
Schödel, R.
,
F. Pollinger
F. Pollinger
Suche nach diesem Autor auf
Sciendo
|
Google Scholar
Pollinger, F.
und
A. Abou-Zeid
A. Abou-Zeid
Suche nach diesem Autor auf
Sciendo
|
Google Scholar
Abou-Zeid, A.
20. Apr. 2009
Measurement Science Review
Band 9 (2009): Heft 1 (Februar 2009)
Über diesen Artikel
Vorheriger Artikel
Nächster Artikel
Zusammenfassung
Referenzen
Autoren
Artikel in dieser Ausgabe
Vorschau
PDF
Zitieren
Teilen
COVER HERUNTERLADEN
Online veröffentlicht:
20. Apr. 2009
Seitenbereich:
16 - 26
DOI:
https://doi.org/10.2478/v10048-009-0001-y
Schlüsselwörter
interferometry
,
diode laser
,
length measurement
,
long distance
,
surface profile
,
gauge blocks
This content is open access.
