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Journal of Electrical Engineering
Band 65 (2014): Heft 5 (September 2014)
Uneingeschränkter Zugang
Electrical Properties of Recessed Algan/Gan Schottky Diodes Under off–State Stress
Martin Florovič
Martin Florovič
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Kordó, Peter
05. Nov. 2014
Journal of Electrical Engineering
Band 65 (2014): Heft 5 (September 2014)
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Online veröffentlicht:
05. Nov. 2014
Seitenbereich:
313 - 316
Eingereicht:
15. Juni 2014
DOI:
https://doi.org/10.2478/jee-2014-0051
Schlüsselwörter
AlGaN/GaN Schottky diode
,
2DEG
,
off-state stress
,
traps
,
recess
© Faculty of Electrical Engineering and Information Technology, Slovak University of Technology
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 3.0 License.