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Structural Characterization of Doped Thick Gainnas Layers - Ambiguities and Challenges

Damian Pucicki

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Katarzyna Bielak

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Beata Ściana

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Wojciech Dawidowski

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Karolina Żelazna

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Jarosław Serafińczuk

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Jaroslav Kováč

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Andrej Vincze

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Łukasz Gelczuk

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Piotr Dłużewski

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Dłużewski, Piotr
  
05. Nov. 2014
Structural Characterization of Doped Thick Gainnas Layers - Ambiguities and Challenges's Cover Image
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Online veröffentlicht: 05. Nov. 2014
Seitenbereich: 299 - 303
Eingereicht: 15. Juni 2014
DOI: https://doi.org/10.2478/jee-2014-0048
Schlüsselwörter
© Faculty of Electrical Engineering and Information Technology, Slovak University of Technology
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 3.0 License.
Sprache:
Englisch
Zeitrahmen der Veröffentlichung:
6 Hefte pro Jahr
Fachgebiete der Zeitschrift:
Technik, Einführungen und Gesamtdarstellungen, Technik, andere
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