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A Risk Metric Assessment of Scenario-Based Market Risk Measures for Volatility and Risk Estimation: Evidence from Emerging Markets


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eISSN:
2233-1999
Sprache:
Englisch
Zeitrahmen der Veröffentlichung:
2 Hefte pro Jahr
Fachgebiete der Zeitschrift:
Wirtschaftswissenschaften, Betriebswirtschaft, andere, Volkswirtschaft