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Materials Science-Poland
Band 34 (2016): Heft 1 (March 2016)
Uneingeschränkter Zugang
High accuracy computational methods for behavioral modeling of thick-film resistors at cryogenic temperatures
Franciszek Balik
Franciszek Balik
und
Andrzej Dziedzic
Andrzej Dziedzic
| 27. Apr. 2016
Materials Science-Poland
Band 34 (2016): Heft 1 (March 2016)
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Article Category:
Research Article
Online veröffentlicht:
27. Apr. 2016
Seitenbereich:
212 - 225
Eingereicht:
09. März 2015
Akzeptiert:
21. Jan. 2016
DOI:
https://doi.org/10.1515/msp-2016-0031
Schlüsselwörter
thick-film resistors
,
cryogenic temperature
,
behavioral modeling
© 2016 Wroclaw University of Technology
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 3.0 License.
Franciszek Balik
Faculty of Microsystem Electronics and Photonics, Wrocław University of Technology, Wybrzeże Wyspiańskiego 27, 50-370 Wrocław,
Poland
Andrzej Dziedzic
Faculty of Microsystem Electronics and Photonics, Wrocław University of Technology, Wybrzeże Wyspiańskiego 27, 50-370 Wrocław,
Poland