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Latvian Journal of Physics and Technical Sciences
Band 53 (2016): Heft 2 (April 2016)
Uneingeschränkter Zugang
Development of Mathematical Models for Detecting Micron Scale Volumetric Defects in Thin Film Coatings
G. Gaigals
G. Gaigals
,
M. Donerblics
M. Donerblics
und
G. Dreifogels
G. Dreifogels
| 20. Mai 2016
Latvian Journal of Physics and Technical Sciences
Band 53 (2016): Heft 2 (April 2016)
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Online veröffentlicht:
20. Mai 2016
Seitenbereich:
38 - 47
DOI:
https://doi.org/10.1515/lpts-2016-0012
Schlüsselwörter
deconvolution
,
compressive sampling
,
ℓ minimization
,
numeric simulation
,
thin film coatings
© 2016 G. Gaigals et al., published by De Gruyter Open
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 3.0 License.
G. Gaigals
Ventspils University College, 101 Inženieru Str., Ventspils, LV-3601, LATVIA
M. Donerblics
Ventspils University College, 101 Inženieru Str., Ventspils, LV-3601, LATVIA
G. Dreifogels
Ventspils University College, 101 Inženieru Str., Ventspils, LV-3601, LATVIA