Uneingeschränkter Zugang

New Robust Model for Stability and H∞ Analysis for Interconnected Embedded Systems

   | 14. März 2024

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eISSN:
2080-2145
Sprache:
Englisch
Zeitrahmen der Veröffentlichung:
4 Hefte pro Jahr
Fachgebiete der Zeitschrift:
Informatik, Künstliche Intelligenz, Technik, Elektrotechnik, Mess-, Steuer- und Regelungstechnik, Maschinenbau, Grundlagen des Maschinenbaus