Logowanie
Zarejestruj się
Zresetuj hasło
Publikuj i Dystrybuuj
Rozwiązania Wydawnicze
Rozwiązania Dystrybucyjne
Dziedziny
Publikacje
Czasopisma
Książki
Materiały konferencyjne
Wydawcy
Blog
Kontakt
Wyszukiwanie
Koszyk
EUR
USD
GBP
Polski
English
Deutsch
Polski
Español
Français
Italiano
Home
Czasopisma
Journal of Electrical Engineering
Tom 62 (2011): Zeszyt 6 (November 2011)
Otwarty dostęp
Coupled Defect Level Recombination in the P—N Junction
Juraj Racko
Juraj Racko
,
Miroslav Mikolášek
Miroslav Mikolášek
,
Peter Benko
Peter Benko
,
Ondrej Gallo
Ondrej Gallo
,
Ladislav Harmatha
Ladislav Harmatha
,
Ralf Granzner
Ralf Granzner
oraz
Frank Schwierz
Frank Schwierz
| 21 gru 2011
Journal of Electrical Engineering
Tom 62 (2011): Zeszyt 6 (November 2011)
O artykule
Poprzedni artykuł
Następny artykuł
Abstrakt
Referencje
Autorzy
Artykuły w tym zeszycie
Podgląd
PDF
Zacytuj
Udostępnij
Data publikacji:
21 gru 2011
Zakres stron:
355 - 358
DOI:
https://doi.org/10.2478/v10187-011-0056-5
Słowa kluczowe
tunneling
,
coupled levels
This content is open access.
Juraj Racko
Slovak University of Technology, Ilkovičova 3, 812 19 Bratislava, Slovakia
Miroslav Mikolášek
Slovak University of Technology, Ilkovičova 3, 812 19 Bratislava, Slovakia
Peter Benko
Slovak University of Technology, Ilkovičova 3, 812 19 Bratislava, Slovakia
Ondrej Gallo
Slovak University of Technology, Ilkovičova 3, 812 19 Bratislava, Slovakia
Ladislav Harmatha
Slovak University of Technology, Ilkovičova 3, 812 19 Bratislava, Slovakia
Ralf Granzner
Technical University Ilmenau, PF 98684 Ilmenau, Germany
Frank Schwierz
Technical University Ilmenau, PF 98684 Ilmenau, Germany