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Journal of Artificial Intelligence and Soft Computing Research
Édition 14 (2024): Edition 2 (March 2024)
Accès libre
Automatic Analysis and Anomaly Detection System of Transverse Electron Beam Profile Based on Advanced and Interpretable Deep Learning Architectures
Michał Piekarski
Michał Piekarski
,
Joanna Jaworek-Korjakowska
Joanna Jaworek-Korjakowska
et
Adriana Wawrzyniak
Adriana Wawrzyniak
| 19 mars 2024
Journal of Artificial Intelligence and Soft Computing Research
Édition 14 (2024): Edition 2 (March 2024)
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Publié en ligne:
19 mars 2024
Pages:
139 - 156
Reçu:
10 juin 2023
Accepté:
13 déc. 2023
DOI:
https://doi.org/10.2478/jaiscr-2024-0008
Mots clés
signal analysis
,
anomaly detection
,
transfer learning
,
convolutional neural networks
,
Synchrotron Radiation System
© 2024 Michał Piekarski et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International License.