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Journal of Electrical Engineering
Band 62 (2011): Heft 6 (November 2011)
Uneingeschränkter Zugang
Coupled Defect Level Recombination in the P—N Junction
Juraj Racko
Juraj Racko
,
Miroslav Mikolášek
Miroslav Mikolášek
,
Peter Benko
Peter Benko
,
Ondrej Gallo
Ondrej Gallo
,
Ladislav Harmatha
Ladislav Harmatha
,
Ralf Granzner
Ralf Granzner
und
Frank Schwierz
Frank Schwierz
| 21. Dez. 2011
Journal of Electrical Engineering
Band 62 (2011): Heft 6 (November 2011)
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Online veröffentlicht:
21. Dez. 2011
Seitenbereich:
355 - 358
DOI:
https://doi.org/10.2478/v10187-011-0056-5
Schlüsselwörter
tunneling
,
coupled levels
This content is open access.
Juraj Racko
Slovak University of Technology, Ilkovičova 3, 812 19 Bratislava, Slovakia
Miroslav Mikolášek
Slovak University of Technology, Ilkovičova 3, 812 19 Bratislava, Slovakia
Peter Benko
Slovak University of Technology, Ilkovičova 3, 812 19 Bratislava, Slovakia
Ondrej Gallo
Slovak University of Technology, Ilkovičova 3, 812 19 Bratislava, Slovakia
Ladislav Harmatha
Slovak University of Technology, Ilkovičova 3, 812 19 Bratislava, Slovakia
Ralf Granzner
Technical University Ilmenau, PF 98684 Ilmenau, Germany
Frank Schwierz
Technical University Ilmenau, PF 98684 Ilmenau, Germany